Myletech Silicon Drift Detector

MT 1000SDD

Specification :

• Analysis Range                 :    1ppm to 99.99% 
• Accuracy                            :    RSD ≤ 0.1% (Au ? 90%) (In homogeneously melted samples) 
• Sample Form                     :    Solid, powder, liquid
• Test Time                           :   2sec~30sec 
• X-Ray Tube Voltage         :  OKV~40KV 
• X- Ray Tube Current         :  ΟμΑ ~ 100μΑ 
• Camera                               :   HD Camera
• Detection type                   :   Si Pin (USA)
• Filters                                  :   Selectable Customized Switches
• Detection type                    :   SDD 
• Resolution                           :   Si-pin 160 ± 5eV 
• Multi-channel Analyzer     :  DMCP 
• Analysis Range                   :  All elements from magnesium (Mg) to plutonium (Pu) 
• Analysis Software               :  KEY-FP qualitative and quantitative 
• External Dimensions          :  480*480*390 (mm) 
• Instrument Weight             :  38Kg